天游线路检测中心 4D-STEM 研讨会信息
发布日期：2025/04/28
赞助商：DECTRIS AG、天游线路检测中心
共同赞助者：JST ERATO Shibata 超原子分辨率电子显微镜项目
感谢您的积极反馈。
4D-STEM 使用 STEM 照射并用电子探针扫描样品，以获得并分析每个位置的电子衍射图案。随着电子显微镜、探测器和分析方法的进步，其用途不断增加，并引起了人们的关注。这次，我们将与东京大学和 DECTRIS 合作举办 4D-STEM 研讨会。除了活跃在最前沿的教师的讲座之外，该项目还包括使用安装在实际设备中的4D-STEM功能的实践培训和分析。如果您有兴趣，请借此机会参加。
活动日期
2 天，2025 年 6 月 4 日星期三和 2025 年 6 月 5 日星期四
地点
东京大学工学研究科研究机构工学部9号楼大会议室
点击此处查看地图
参与费
免费
参与者数量
16人（先到先得）
计划详情
6 月 4 日星期三
| 小时 | 标题 | 扬声器 |
|---|---|---|
| 9:00～ | 接待处 | |
| 9:45～ | 开场白 | |
| 10:00～ | 像素探测器如何为 STEM 成像添加新维度 | 博士。斯科特·芬德利（莫纳什大学） |
| 10:45～ | 大型 4D STEM 实验数据集近实时处理的工作流程 | 博士。丹尼尔·斯特罗帕(DECTRIS AG) |
| 11:15～ | 综合分析平台“FEMTUSTM“简介 | 奥西英二（日本电子有限公司） |
| 11:45～ | 午餐/休息 | |
| 13:15～ | 使用 ARINA 开发 4D STEM 实时观察应用程序 | 田端宏宏（东京大学工学研究科） |
| 13:45～ | 动手实践：参与者将分为两组，学习如何使用 ARINA 进行数据采集，并使用所获取的数据进行数据分析。 | |
| 17:00～ | 问答 |
6 月 5 日（星期四）
| 时间 | 标题 |
|---|---|
| 9:00～ | 动手实践：参与者将分为两组，学习如何使用 ARINA 进行数据采集，并使用所获取的数据进行数据分析。 |
| 12:15～ | 午餐/休息 |
| 13:30～ | 公开讨论 |
| 15:00～ | 结束 |
*计划如有更改，恕不另行通知。感谢您的理解。
如何申请
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