天游线路检测中心 第十八届 TEM 用户会议
发布日期：2025/10/22
参加研讨会的申请已结束
本次研讨会的报名已结束。非常感谢您的多次申请。
今年TEM用户见面会是会场讲座/我们正在筹划一个展览。与往年一样，我们计划提供涵盖各个领域的新的实用技术信息，包括外部讲师。我们还计划在会场张贴海报并设立设备介绍角。
此外，TEM的疑虑和疑问。在这里您可以讨论您的日常问题。
我们计划在讲座结束后举行一次社交聚会，因此我们希望您能够进行有意义的讨论，作为用户和我们的员工交流信息的场所。我们理解您可能很忙，但我们期待您的参与。
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活动日期 |
2025 年 12 月 12 日星期五 |
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地点 |
浅草桥Hulic Hall东京都台东区浅草桥 1-22-16 Hulic 浅草桥大楼 2 楼，邮编 111-0053访问地图 |
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参与费 |
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。） |
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联系我们 |
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查询 |
日本电子有限公司用户会议秘书处jeolum[at]jeolcojp
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计划
| 时间 | 标题 摘要 |
扬声器 |
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| 09:30～ | 接待处 | |
| 10:00～10:10 | 开场白 | |
| 10:10～10:30 |
JEM-120i 的新功能介绍～随着 STEM 安装和 FEMTUS™ 的发展，可能性不断扩大～ JEM-120i 是一款结构紧凑、易于操作且可扩展的 TEM。在保持简单操作手感的同时，增加了新的STEM功能，并对操作GUI FEMTUS™进行了升级。 |
日本电子有限公司 SI事业部 EM 业务部 EM应用部 青木遥 
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| 10:30～11:10 |
利用HRTEM等分析飞机尾气纳米颗粒和油纳米颗粒的形状、内部结构、元素组成等 飞机在从地面到对流层上层的大气中产生纳米粒子（粒径为50）。 |
国家环境研究所 先生伏见昭宏 
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| 11:10～11:30 |
使用特殊支架进行现场观察的示例 对于原位观察，有一种传统方法，使用加热或施加电压的特殊支架。除此之外，以前被认为很困难的原位观测（例如在气体和液体中）现在也成为可能。 |
日本电子有限公司 SI事业部 EM 业务部 EM应用部 福永敬一 
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| 11:30～12:10 |
利用透射电子显微镜对功能材料进行原位观察的努力 透射电子显微镜 (TEM) 被广泛用作评估纳米级形态和晶态的方法。通常，TEM观察是在真空环境中进行的，但另一方面，材料合成环境和器件操作条件可以在TEM中再现。 |
电装株式会社 材料研究部 先生渡边弘树 
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| 12:10〜12:40 |
午餐 |
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| 12:40〜13:40 |
海报展览/远程演示/各类咨询 |
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| 13:40〜14:00 |
JEM-ARM200F倾斜扫描系统的开发及其应用 DPC-STEM方法是一种可以在纳米尺度上可视化样品的电场和磁场信息的方法。另一方面，如果样品具有结晶性，则来自晶体的对比度将叠加在观察结果上， |
日本电子有限公司 SI事业部 EM 业务部 EM应用部 安原聪 
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| 14:00〜14:50 |
使用相差扫描透射电子显微镜观察碳基材料 由轻元素组成的有机材料与电子的相互作用较弱，即使使用电子显微镜观察也难以获得图像对比度，从而难以观察其结构。 |
东京农工大学 工程学院 先生箕田弘树 
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| 14:50〜15:20 |
休息/海报展示/远程演示/各种咨询 |
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| 15:20〜16:10 |
旨在利用电子显微镜改进材料分析技术 当我还是一名学生时，我开始使用 CBED 方法确定局部区域的晶体对称性，后来参与了超高能量分辨率 EELS 电子显微镜的开发，旨在分析该局部区域的电子状态。 |
东北大学 多元材料科学研究所 先生寺内正美 
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| 16:10〜16:20 | 结束语 | |
| 16:20〜17:20 | 社交聚会/海报展览/远程演示/各类咨询 | |
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该计划如有更改，恕不另行通知。感谢您提前的理解。
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