天游线路检测中心 第十八届 TEM 用户会议
发布日期：2025/10/22
今年TEM用户见面会是会场讲座/我们正在筹划一个展览。与往年一样，我们计划提供涵盖各个领域的新的实用技术信息，包括外部讲师。我们还计划在会场张贴海报并设立设备介绍角。
此外，TEM的疑虑和疑问。在这里您可以讨论您的日常问题。
我们计划在讲座结束后举行一次社交聚会，因此我们希望这对用户和我们的员工来说是一个有意义的交流信息的机会。我们理解您可能很忙，但我们期待您的参与。
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活动日期 |
2025 年 12 月 12 日星期五 |
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地点 |
浅草桥胡里克大厅东京都台东区浅草桥 1-22-16 Hulic 浅草桥大厦 2 楼，邮编 111-0053访问地图 |
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参与费 |
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。） |
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联系我们 |
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查询 |
日本电子有限公司用户会议秘书处jeolum[at]jeolcojp
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程序
| 时间 | 标题 摘要 |
扬声器 |
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| 09:30～ | 接待处 | |
| 10:00～10:10 | 开场白 | |
| 10:10～10:30 |
JEM-120i 的新功能介绍～随着 STEM 安装和 FEMTUS™ 的发展，可能性不断扩大～ JEM-120i 是一款结构紧凑、易于操作且可扩展的 TEM。在保持简单操作手感的同时，增加了新的STEM功能，并对操作GUI FEMTUS™进行了升级。 |
日本电子有限公司 SI事业部 EM 业务部 EM应用部 青木遥 
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| 10:30～11:10 |
利用HRTEM等分析飞机尾气纳米颗粒和油纳米颗粒的形状、内部结构、元素组成等 飞机在从地面到对流层上层的大气中产生纳米颗粒（粒径为50）。 |
国家环境研究所 先生伏见昭宏 
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| 11:10～11:30 |
使用特殊支架进行现场观察的示例 对于原位观察，有一种传统方法，使用加热或施加电压的特殊支架。除此之外，以前被认为很困难的原位观测（例如在气体和液体中）现在也成为可能。 |
日本电子有限公司 SI事业部 EM 业务部 EM应用部 福永敬一 
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| 11:30～12:10 |
利用透射电子显微镜对功能材料进行原位观察的努力 透射电子显微镜 (TEM) 被广泛用作评估纳米级形态和晶态的方法。通常，TEM观察是在真空环境中进行的，但另一方面，材料合成环境和器件操作条件可以在TEM中再现。 |
电装株式会社 材料研究部 先生渡边弘树 
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| 12:10〜12:40 |
午餐 |
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| 12:40〜13:40 |
海报展览/远程演示/各类咨询 |
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| 13:40〜14:00 |
JEM-ARM200F倾斜扫描系统的开发及其应用 DPC-STEM方法是一种可以在纳米尺度上可视化样品的电场和磁场信息的方法。另一方面，如果样品具有结晶性，则来自晶体的对比度将叠加在观察结果上， |
日本电子有限公司 SI事业部 EM 业务部 EM应用部 安原聪 
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| 14:00〜14:50 |
使用相差扫描透射电子显微镜观察碳基材料 由轻元素组成的有机材料与电子的相互作用较弱，即使使用电子显微镜观察也难以获得图像对比度，从而难以观察其结构。 |
东京农工大学 工程学院 先生箕田弘树 
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| 14:50〜15:20 |
休息/海报展示/远程演示/各种咨询 |
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| 15:20〜16:10 |
旨在利用电子显微镜改进材料分析技术 当我还是一名学生时，我开始使用 CBED 方法确定局部区域的晶体对称性，后来参与了超高能量分辨率 EELS 电子显微镜的开发，旨在分析该局部区域的电子状态。 |
东北大学 多元材料科学研究所 先生寺内正美 
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| 16:10〜16:20 | 结束语 | |
| 16:20〜17:20 | 社交聚会/海报展览/远程演示/各类咨询 | |
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该计划如有更改，恕不另行通知。感谢您提前的理解。
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