天游线路检测中心 再次交付：如何对非导电样品进行 SEM 观察，第一部分
发布日期：2025/03/07
由于容量有限，申请现已关闭。
本次网络研讨会已满员，注册现已结束。如果您想参加，请稍后观看录制的广播。
本次网络研讨会于 2025 年 3 月举行，但由于其受欢迎程度，我们将再演一场。如果您因上次名额已满而无法申请，请加入我们。上次参加过的人也可以申请。
使用扫描电子显微镜(SEM)，如果直接观察非导电样品，就会带电（充电），因此防止带电的对策至关重要。但目前的情况是，很多人担心自己不知道如何区分静电荷，即使采取措施也无法抑制静电荷。
在本次网络研讨会中，我们将介绍处理静电时应注意的要点，重点介绍采样和测量条件，包括如何识别静电。
本次网络研讨会是 3 月份举办的网络研讨会的重演。该活动将分为三个部分进行。
再来一次：如何进行非导电样品的SEM观察第二部分~基于案例的充电对策~
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。我们期待您的参与。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
如何识别静电电荷
处理静电时的注意事项
如何对非导电样品进行 SEM 观察
想要参与的客户
对于那些已经开始使用 SEM 的人
对于那些使用 SEM 观察非导电样品的人
对于那些想了解抗静电措施的人
扬声器
松本雄太
日本电子有限公司EP业务部EP申请部
日期/详细信息
2025年4月15日（星期二）16:00-17:00
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参与费
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。）
如何申请
由于本次网络研讨会已满员，注册已结束。
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