天游线路检测中心 如何对非导电样品进行 SEM 观察第 I 部分

发布日期：2025/01/14

*感谢您对本次网络研讨会的兴趣。由于我们已达到容量，申请现已关闭。

使用扫描电子显微镜 (SEM)，当按原样观察非导电样品时，会发生带电（充电），因此防止带电的对策至关重要。但目前的情况是，很多人担心自己不知道如何区分静电荷，即使采取措施也无法抑制静电荷。
在本次网络研讨会中，我们将介绍处理静电时应注意的要点，重点介绍如何区分静电以及采样和测量条件。

本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。我们期待您的参与。

相关网络研讨会

如何进行非导电样品的SEM观察第二部分〜基于案例研究的充电对策〜

如何进行非导电样品的SEM观察第三部分~涂层版~

您可以从本次网络研讨会中学到什么

• 如何识别静电电荷

• 处理静电时的注意事项

• 如何对非导电样品进行 SEM 观察

想要参与的客户

• 对于那些已经开始使用 SEM 的人

• 对于那些使用 SEM 观察非导电样品的人

• 对于那些想了解抗静电措施的人

扬声器

松本雄太

日本电子有限公司
EP事业部
EP申请部

日期/详细信息

• 2025 年 2 月 25 日星期二 16:00 - 17:00

• 讲座结束后将有问答环节。

相关产品

扫描电子显微镜 (SEM)

参与费

免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。）

如何申请

网络研讨会已经结束。
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如何对非导电样品进行 SEM 观察第一部分