天游线路检测中心 让晶体取向分析变得更容易！从通用 SEM 开始进行 EBSD 测量
发布日期：2024/11/14
为了了解材料的特性，分析晶体取向和应变非常重要。传统上，配备肖特基电子枪的SEM主要用于EBSD测量，但EBSD测量目标晶体的晶粒尺寸通常为微米级，通用SEM也可以进行足够的测量。在本次研讨会中，对于那些考虑引入晶体取向分析的人，我们将介绍使用通用 SEM 和专用紧凑型 EBSD 检测器组合的测量示例。我们还将解释适合 EBSD 测量的样品预处理。
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。我们期待您的参与。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
关于使用通用 SEM 进行晶体取向分析
EBSD 测量示例
EBSD预处理方法
想要参与的客户
对于那些刚刚开始 EBSD 测量的人
进行微米级EBSD测量的人
那些考虑添加SEM-EBSD进行筛选的人
扬声器
石野真友
EP事业部EP申请部SEM集团第一队
日期/详细信息
2024 年 12 月 13 日（星期五）16:00 - 17:00
讲座结束后将有问答环节。
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演示材料
您可以在讲座结束后填写调查问卷来下载。
参与费
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。）
如何申请
网络研讨会已经结束。讲座视频可作为存档使用。您可以通过下面的申请观看。
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日本电子有限公司需求促进总部网络研讨会秘书处sales1[at]jeolcojp
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视频
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