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天游线路检测中心 东丽研究中心 x JEOL 共同主办的网络研讨会:使用扫描电子显微镜 (SEM) 和透射电子显微镜 (TEM) 进行电池材料分析的最新趋势

发布日期:2024/11/05

东丽研究中心有限公司 日本电子有限公司

继去年之后,东丽研究中心和 JEOL 将共同举办有关电池材料分析相关工作的网络研讨会。

这次,我们将重点关注扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM),并介绍评估方法和观察示例。

JEOL将主要介绍最新的观察和分析方法,东丽研究中心将进行演示,其中包括使用实际引入和操作的设备的分析示例。

本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络,您不仅可以通过计算机参与,还可以通过智能手机或平板电脑参与。

我们期待您的参与。

日期/详细信息

  • 2024 年 12 月 11 日星期三 13:30-15:30

  • 讲座结束后将有问答环节。

扬声器

<网络研讨会 1>
13:30~14:00

用于电池材料分析的高端扫描电子显微镜

扫描电子显微镜 (SEM) 可实现纳米级观察,并已成为许多科学技术领域的重要工具。
在本次研讨会中,我们将介绍我们的 SEM 系列,解释适合电池材料分析的高端 SEM 的特征和吸引力,并介绍一些观察示例。

根本善和

日本电子有限公司
科学与测量仪器销售部
SI促销办公室

<网络研讨会 2>
14:00~14:30

东丽研究中心采用配备双无窗 EDX + SXES 的新型 SEM 介绍全固态电池的先进分析技术

在锂离子电池领域,除了对Li等轻元素的元素分布进行高灵敏观察外,对化学态分析的需求也越来越大。对此,东丽研究中心推出了最新的扫描电镜,可以同时进行轻元素的高灵敏度检测和化学状态分析。
在本讲座中,我们将通过同时分析全固态锂离子电池硅负极中的含Li元素分布和硅的化学状态的示例,介绍最新SEM的有用性。

加藤健太郎

东丽研究中心有限公司
电力存储设备事业部
首席研究员

<网络研讨会 3>
14:30~15:00

锂电池材料透射电子显微镜分析方法介绍

透射电子显微镜 (TEM) 使用透射电子来放大样品,其分辨率可观察到原子水平,而且还能够使用各种技术进行广泛的分析。通过结合这些方法,我们将介绍从微米级到原子分辨率级的观察和分析方法。
此外,在本次研讨会中,我们将介绍将上述观察和分析方法应用于实际锂电池正极和负极材料的示例。

桥口宏树

日本电子有限公司
EM 业务部
EM应用部

<网络研讨会 4>
15:00~15:30

介绍使用东丽研究中心的高端分析电子显微镜 (Grand ARM™2) 低损伤测量 LIB 正极活性材料的示例

为了实现锂离子二次电池的性能,正在通过控制活性材料表面和界面的组成和晶体结构来进行材料设计。此外,与充电和放电相关的结构变化是由与电解液的反应和锂的嵌入/脱出反应引起的,并且已知发生在活性材料的最外表面。透射电子显微镜是一种非常强大的分析工具,因为它具有很高的空间分辨率,可以直接观察和评估局部区域的成分和晶体结构。
在本讲座中,我们将介绍一个使用高端分析电子显微镜剂量控制系统和高灵敏度检测器获得的无损伤数据对充放电测试前后的LIB正极活性材料进行分析的示例。

小山司

东丽研究中心有限公司
形态科学研究部
研究员

演示材料

讲座结束后填写调查问卷即可下载。

参与费

免费(按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。)

如何申请

请在下面申请。

  • 请参阅 PDF,了解有关如何注册和参与的详细信息。

  • 网络研讨会将在 Zoom 上举行。 Zoom有测试会议功能,因此我们建议首次使用的用户进行测试。点击此处了解详情。

  • 请注意,我们可能会拒绝参赛者注册。

联系我们

联系信息
日本电子有限公司
需求促进总部网络研讨会秘书处
sales1[at]jeolcojp

  • 请将[at]更改为@。
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