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天游线路检测中心 2024年表面分析实用课程 实用!最新扫描电子显微镜实践通过实际工作获得的最新技术

发布日期:2024/05/23

2024 年表面分析实践课程将在 JEOL 昭岛工厂举办。
在本课程中,我们假设您有SEM的使用经验,除了基础知识和应用的讲座外,您还将在专家的指导下参加使用最新实际设备的实践培训。通过体验,您将加深对原理的理解并获得可有效应用的操作技术。实训的目的是通过实践学习如何使用各种探测器、低加速电压观察和分析,甚至样品截面的制备。

日本表面真空学会赞助

官方网站

日期/地点

  • 日期:
    2024 年 8 月 8 日(星期四)、9 日(星期五)

  • 日本电子有限公司
    开发厅东京都昭岛市武藏野 3-1-2 邮编 196-8558
    点击此处查看地图

  • 访问:
    JR青梅线
    从中上站北口步行约10分钟/从立川站北口乘坐出租车约15分钟

参会费/名额

  • 学费:
    付费(请参阅会议网站)

  • 容量:
    18 人(满员后即停止营业)

计划

2024 年 8 月 8 日(星期四)

时间 标题 讲师
09:30~10:00 SEM 培训前回顾基础知识 朝比奈俊介
日本电子有限公司
10:00~12:00 SEM 练习 1(LV-SEM 或 FE-SEM) JEOL 有限公司应用工程师
12:00~13:00 午餐
13:00~14:00 SEM 练习 1 延续(LV-SEM 或 FE-SEM) 天游线路检测中心 应用工程师
14:00~15:00 SEM 练习 2(FE-SEM 或 LV-SEM) JEOL 有限公司应用工程师
15:00~15:30 中断
15:30~17:30 SEM 练习 2 延续(FE-SEM 或 LV-SEM) 天游线路检测中心 应用工程师

2024 年 8 月 9 日星期五

时间 标题 讲师
09:30~10:00 使用低加速度电子进行高分辨率测量 高见诚一
名古屋大学
10:00~10:55 用高分辨率扫描电子显微镜观察到的纳米多孔材料 远藤晃
国立产业技术综合研究所
10:55~11:05 中断
11:05~12:00 充分利用配备多个图像探测器的最新扫描电子显微镜 佐藤薰
JFE科技研究有限公司
12:00~13:00 午餐
13:00~13:30 使用 Ar 离子束制备 SEM 样品横截面 大本玉惠
日本电子有限公司
13:30~14:20 Principles of SEM-EBSD method and application examples to material analysis 森田博文
牛津仪器有限公司
14:20~14:40 中断
14:40~15:30 SEM-EDS 分析的基础和实践 森田正树
日本电子有限公司
15:30~17:00 设备培训(样品横截面制备、EBSD、EDS) 大本玉惠(样品横截面制备)
森田博文(EBSD)
森田正树(EDS)
17:00~17:30 一般性讨论

如何申请

联系我们

日本电子有限公司
需求促进总部策划部活动组
电子邮件:jeol_event[at]jeolcojp

  • 请将[at]更改为@。
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