天游线路检测中心 SEM/表面分析/预处理研讨会@Nagoya
发布日期：2024/05/16
今年的SEM/表面分析/预处理研讨会计划在会场进行讲座/展览。
我们计划展示涵盖各个领域的新颖实用的技术信息。
此外，会场还将设置海报角和CP样品制备咨询角。
此咨询角需要提前预约。
如果您有兴趣，请填写申请表。
我们计划在讲座结束后举行一次社交聚会，因此我们希望您能够进行有意义的讨论，作为交流信息的场所。
本次研讨会不仅限于使用我们设备的人，还包括使用其他公司设备或对设备感兴趣的人。
这是任何人都可以参加的免费研讨会。
我们理解您可能很忙，但我们期待您的参与。
因容量已满而关闭。
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- 当您抵达时，我们会要求您在接待处给我们两张名片。对于给您带来的不便，我们深表歉意，但请您提前做好准备。
- 请注意，我们可能会拒绝同一行业的公司或机构的注册。
- 不会进行在线分发。
- 活动结束后，演示视频将不会发布在首页上。
活动日期
2024 年 11 月 13 日星期三
地点
中日厅及会议〒460-0008中日大厦6楼点击此处查看地图
参与费
免费
程序
| 时间 | 标题摘要 | 扬声器 |
|---|---|---|
| 9:30～ | 接待处 | |
| 10:00～10:10 | 开场白 | |
| 10:10～10:40 | 通过网络远程控制！物联网横截面抛光机™ IB-19540CP、IB-19550CCP 简介 隆重推出新开发的远程控制横截面抛光机™ (CP)。支持 IoT 的 CP 可以检查加工状态并更改位于远程位置的多个 CP 的加工条件。此外，10 kV高通量离子源缩短了处理时间，提高了工作效率。此外，通过组合各种功能支架和冷却等附件，可以对各种样品进行高质量处理。 | 日本电子有限公司EP业务部EP申请部长谷部雄二 |
| 10:40～11:10 | 推出新型 FE-SEM JSM-IT810 近年来，扫描电子显微镜观察和分析对自动化技术的需求不断增加。我们开发了配备新一代光电控制系统“Neo Engine”的JSM-IT810和配备Zeromag和EDS集成以方便使用的JSM-IT800，以及新的自动观察和分析功能“Neo Action”以及自动调整SEM对准、放大倍数和EDS能量校准的功能。在本次讲座中，我们将介绍JSM-IT810的特点和应用实例。 | 日本电子有限公司EP业务部EP技术开发部新见大信名越达郎 |
| 11:10～11:40 | EDS-MAP 提示！～从数据获取方法到分析～ EDS-MAP 可让您直观地看到样品中所含元素的分布。然而，有些人可能难以理解 MAP 的测量条件和所获取数据的解释。在本次演讲中，我们将介绍设置 MAP 测量条件的技巧、数据采集后的分析方法以及有用的功能。 | 日本电子有限公司解决方案开发中心解决方案推广部八幡艾丽卡EX事业部 EX技术开发部藤井笃宏 |
| 11:40～12:10 | 午餐 | |
| 12:10～13:00 | 实机/海报展示 | |
| 13:00～13:30 | 您在分析树脂材料时遇到困难吗？～树脂电镀的EPMA分析～ 电子探针显微分析仪（EPMA）被认为是一种通过用窄聚焦电子束照射样品并检测所产生的特征X射线来对微小区域进行元素分析的装置。与SEM-EDS相比，EPMA具有使用大电流分析微量元素的强烈形象，因此被认为不擅长分析容易受到电子束损伤的样品。然而，近年来，对合成树脂等容易受到光束损伤的样品进行分析的需求不断增加。这次，我们将介绍使用树脂电镀样品对易受光束损伤的样品中微量元素进行分析的示例。 | 日本电子有限公司SA 业务部门SA技术开发部上条诗织 |
| 13:30～14:00 | 让SXES分析更方便、更简单～介绍更容易使用的新SXES软件～ SXES 软件配置已重新设计，SXES 测量功能已作为组件重新构建并集成到 SEM 控制软件中。您可以直观地确定分析位置，设置SXES条件，并从SEM图像开始分析。此外，与 EDS 分析的增强集成可实现无缝 SXES 分析。在本次演示中，我们将概述具有改进的可操作性的新 SXES 集成软件。 | 日本电子有限公司SA 业务部门SA设计部木下慎吾 |
| 14:00～14:30 | 使用 Ar 离子进行样品预处理和加工损伤研究~半导体样品的 AES 分析~ 在俄歇电子能谱 (AES) 分析中，有很多关于影响分析结果的样品损坏的讨论。这次，我们使用半导体样品在各种条件下进行了实验，以评估 Ar 离子蚀刻和 CP 处理过程中造成的损伤对俄歇分析的影响。在本次演示中，我们将报告在经过 Ar 离子蚀刻或 CP 处理的样品中测量 pn 区费米能级差和带隙的精确度的结果。 | 日本电子有限公司SA 业务部门SA技术开发部锅岛冬树 |
| 14:30～15:00 | 比ICP超级简单！使用 XRF 进行液体分析的前沿 使用XRF对液体样品进行分析可以与溶剂的类型或粘度无关，例如水溶液或有机溶剂，并且不需要复杂的预处理；只需将样品倒入特殊的杯子中即可轻松进行测量。尽管它易于使用，但人们并不普遍知道它存在检测限和定量分析过程中需要考虑的点。因此，在本次演讲中，我们将介绍使用 XRF 进行液体分析的检测限以及使用 FP 方法进行定量分析的条件设置技巧。 | 日本电子有限公司SA 业务部门SA技术开发部村谷直树 |
| 15:00〜15:50 | 破解/实机/海报展示 | |
| 15:50～16:20 | FIB-SEM JIB-PS500i 简介～从TEM样品制备到三维测量～ TEM可进行高分辨率观察，对于局部微观结构分析非常有效，但FIB-SEM适用于宽视场的三维分析。 JIB-PS500i是一款高性能FIB-SEM，可为半导体器件等精细结构样品提供高质量的TEM样品制备和纳米级三维分析。它还配备了非暴露传输机构，使其能够有效地处理和观察容易与大气发生反应的样品。在本次讲座中，我们将介绍JIB-PS500i的各种特性及其应用。 | 日本电子有限公司EP业务部EP申请部中岛佑平 |
| 16:20～16:50 | 什么是透射电子显微镜？～透射电子显微镜原理及应用～ 透射电子显微镜 (TEM) 因其高空间分辨率而成为微观结构分析的强大工具之一。这些方法范围广泛，包括直接观察原子排列、使用电子衍射进行晶体结构分析以及与光谱学相结合的纳米级成分分析。在本次演讲中，我们将提供广泛的解释，从 TEM 的基本原理到其各种方法和应用示例，并在与扫描电子显微镜 (SEM) 进行比较的同时介绍其重要性和作用。 | 日本电子有限公司EM 业务部EM应用部三浦早人 |
| 16:50〜17:00 | 结束语 | |
| 17:10～18:10 | 社交聚会/实机/海报展示 |
*计划如有变更，恕不另行通知。感谢您提前的理解。
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