天游线路检测中心 第 43 届 EPMA 表面分析用户东京会议
发布日期：2024/05/07
申请已关闭。
今年的 EPMA 东京用户会议将在该会场举行，并同步在线直播。
与往年一样，我们计划提供涵盖各个领域的新颖实用的技术信息，包括外部讲师。
我们还计划在会场展示海报并设立设备介绍角。
我们计划在讲座结束后举行一次社交聚会，因此我们希望这对用户和我们的员工来说是一个有意义的交流信息的机会。
这次用户会议是一个免费的研讨会，任何人都可以参加，不仅是使用我们设备的人，还包括使用其他公司设备的人和对设备感兴趣的人。
我们理解您可能很忙，但我们期待您的参与。
※EPMA（电子探针微量分析仪）
联系我们
- 当您来访时，我们会要求您在接待处给我们两张名片。对于给您带来的不便，我们深表歉意，但请您提前做好准备。
- 请注意，我们可能会拒绝同一行业的公司或机构的注册。
- 会议记录（小册子）将仅分发给出席会场的人员。如果您在线参与并想要会议记录集（小册子），请联系我们的销售代表。请注意，我们不提供数字数据。
- 有关每场讲座的问题仅由出席会场的人员接受。如果您在线参加讲座并对讲座有任何疑问，请在讲座结束后填写调查问卷。
- 活动结束后，演示视频将不会发布在网站上。
开催日
2024 年 10 月 31 日（星期四）
地点
浅草桥Hulic Hall
东京都台东区浅草桥 1-22-16 Hulic 浅草桥大楼 2 楼，邮编 111-0053
点击此处查看地图
参与费
免费
程序
| 时间 | 标题摘要 | 扬声器 |
|---|---|---|
| 9:30～ | 接待处 | |
| 10:00～10:10 | 开场白 | |
| 10:10～10:40 | 树脂材料の分析困っていませんか？～树脂电镀的EPMA分析～ 电子探针显微分析仪（EPMA）被认为是一种通过用窄聚焦电子束照射样品并检测所产生的特征X射线来对微小区域进行元素分析的装置。与SEM-EDS相比，EPMA具有使用大电流分析微量元素的强烈形象，因此被认为不擅长分析容易受到电子束损伤的样品。然而，近年来，对合成树脂等容易受到光束损伤的样品进行分析的需求不断增加。这次，我们将介绍使用树脂电镀样品对易受光束损伤的样品中微量元素进行分析的示例。 | 日本电子有限公司SA 业务部门SA技术开发部上条诗织
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| 10:40～11:15 | 热喷涂厚膜涂层技术概述及膜层结构分析 热喷涂是一种厚膜涂层工艺，以粉末为原料，可以在包括金属、陶瓷和聚合物在内的多种材料上形成薄膜。虽然它们在日常生活中很少见到，但在飞机发动机、发电厂、钢铁制造、半导体制造设备等行业中，它们在保护设备免受恶劣运行环境影响方面发挥着重要作用。在本次讲座中，我们将介绍热喷涂工艺的原理及其在工业中的主要应用，并解释薄膜结构分析和表面分析技术的应用，这对于热喷涂涂层的开发和故障排除至关重要。 | 黑田涂料技研先生黑田诚二
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| 11:15～11:50 | 使用 EPMA 分析火山喷出物的案例研究 在火山喷出的浮石和熔岩中，岩浆到达地球表面的过程被记录为微小区域的化学不均匀性。 EPMA 是破译火山喷出物记录和了解喷发机制的重要工具。在本次讲座中，我们将介绍使用 EPMA 对矿物和火山玻璃进行成分分析和微量元素绘图的示例。 | 国立大学法人东北大学新谷直树
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| 11:50～12:20 | 午餐 | |
| 12:20～13:00 | 实机/海报展示 | |
| 13:00～13:35 | artience Inc 的设备许可系统介绍以及 XRF 使用示例 我们想介绍一下我们公司设备许可制度的最新变化以及旨在提高设备开工率的自我分析文化。我们还定期进行分析和分析培训，XRF的元素分析能力得到广泛认可，ICP要求分析的数量正在减少。在我们公司，我们越来越多地使用 XRF 进行元素分析。在本次演讲中，我们将介绍一些使用 XRF 的分析示例。 | 艺术有限公司先生加贺聪
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| 13:35～14:05 | 比ICP超级简单！使用 XRF 进行液体分析的前沿 使用XRF对液体样品进行分析，无论溶剂的类型或粘度如何，例如水溶液或有机溶剂，都可以进行，并且不需要复杂的预处理；只需将样品倒入特殊的杯子中即可轻松进行测量。尽管它易于使用，但人们并不普遍知道它存在检测限和定量分析过程中需要考虑的点。因此，在本次演讲中，我们将介绍使用 XRF 进行液体分析的检测限以及使用 FP 方法进行定量分析的条件设置技巧。 | 日本电子有限公司SA事业部SA技术开发部村谷直树
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| 14:05～14:35 | 让SXES分析更方便、更简单～介绍更容易使用的新SXES软件～ SXES 软件配置已重新设计，SXES 测量功能已作为组件重新构建并集成到 SEM 控制软件中。您可以直观地确定分析位置，设置SXES条件，并从SEM图像开始分析。此外，与 EDS 分析的增强集成可实现无缝 SXES 分析。本発表では、操作性の向上した新しいSXESインテグureーションソfutoウェアの概要につい介ご绍いたします。 | 日本电子有限公司SA事业部SA设计部木下慎吾
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| 14:35～15:15 | 破解/实机/海报展示 | |
| 15:15～15:45 | 使用 Ar 离子进行样品预处理和加工损伤研究~半导体样品的 AES 分析~ 在俄歇电子能谱 (AES) 分析中，有很多关于影响分析结果的样品损坏的讨论。这次，我们使用半导体样品在各种条件下进行了实验，以评估 Ar 离子蚀刻和 CP 处理过程中造成的损伤对俄歇分析的影响。在本次讲座中，我们将报告在经过 Ar 离子蚀刻或 CP 处理的样品中测量 pn 区费米能级差和带隙的精确度的结果。 | 日本电子有限公司SA事业部SA技术开发部锅岛冬树
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| 15:45～16:15 | 可在现场使用的EPMA技术~彩色地图版~ 电子探针显微分析仪（EPMA）具有高波长分辨率和分析微量元素的能力，作为固体表面微小区域的无损分析装置，被广泛应用于各个领域。 EPMA可以使用WDS（波长色散光谱仪）进行高精度的面积分析（彩色图），但为了获得准确的分析结果，需要记住一些要点。在本次演讲中，我将介绍一些避免陷入此类陷阱的技巧。 | 日本电子有限公司解决方案开发中心解决方案推广部土门武
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| 16:15～16:25 | 结束语 | |
| 16:25～18:00 | 社交聚会/实机/海报展示 |
*该计划如有更改，恕不另行通知。感谢您提前的理解。
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