天游线路检测中心 使用 XPS 计算聚合物样品的波形分离时如何确定参数
发布日期：2023/12/04
X 射线光电子能谱在分析聚合物样品的化学键状态时使用波形分离计算来识别和量化官能团。此时，需要对去除背景后的谱图设置峰位置、峰宽度等参数。为了知道这些参数的近似值，我们从聚合物样品测量数据库中编译了峰位置和峰宽度的参数值。结果，我们能够确认每个功能组的参数分布，因此我们将介绍结果。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
聚合物化学键态分析方法
计算聚合物样品波形分离时设置的峰位置等参数分布
执行 XPS 波形分离的提示
想要参与的客户
想要使用 XPS 分析聚合物样品的化学键状态的人
If you are having trouble with XPS waveform separation calculation
使用红外等分析聚合物样品的人
扬声器
村谷直树
SA 业务部门SA技术开发3G
日期/详细信息
2024年1月26日（星期五）16:00-17:00
讲座结束后将有问答环节。
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演示材料
您可以在讲座结束后填写调查问卷来下载。
如何申请
网络研讨会已经结束。
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