天游线路检测中心窗口芯片的应用实例~关于TEM广域观察、片上CLEM、串行截面TEM~
发布时间：2020/06/23
JEOL has developed a 天游线路检测中心 window chip as a sample support for wide-field observation for transmission electron microscopy
此芯片为1×2mm2天游线路检测中心薄膜，可以观察测角仪的整个可移动范围，而不会出现光栅渐晕。
在本次网络研讨会中，我们将介绍和解释使用 TEM 的宽视场观察、一种称为片上 CLEM 的新型 CLEM 观察方法，以及通过串行截面观察重建三维结构的串行截面 TEM，作为 天游线路检测中心 窗口芯片的应用示例。
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。
我们期待您的参与。
赞助商：天游线路检测中心株式会社
日期/详细信息
- 日期：
July 16, 2020 (Thursday) 16:00-16:30
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参会费/名额
- 参与费用：
免费 - 容量：
200人
*接待将按照先到先得的原则进行。请尽早申请。
如何申请
- 在此申请
*网络研讨会的注册和参与方式发生了变化。详情(PDF 955KB)。
*预分发材料将仅发送给那些在网络研讨会当天上午之前注册参加的人员。请注意，如果您在此时间之后注册，材料将在研讨会结束后分发。
*请注意，我们可能会拒绝竞争对手的注册。
查询
- 天游线路检测中心有限公司
需求促进总部
广川（广川）
jeol_event[at]jeolcojp
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