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天游线路检测中心 [已售完] JWS-2000 审查 SEM 缺陷审查

已售完

JWS-2000 审查 SEM 缺陷审查

此产品不再可用。

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规格/选项

分辨率 5nm(1kV)
加速电压 500V~15kV
观察倍率 ×100~×200,000
舞台 X-Y:200mm,T:60°,R:360°
样本大小 200mm以下
ADR(死就死) 900dph(JEOL 标准样品)

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JEOL设备简介

关于JEOL主要产品的机理和应用
易于理解的解释。

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