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天游web原生态手机端-Oxford Instruments 联合主办
SEM 和纳米压痕仪“研讨会 2026”

发布日期:2026/05/28

年度联合研讨会今年将以研讨会的形式举行。来自牛津仪器,去年开始扫描电镜主要是纳米压头、压头/EBSD数据互易和原位 EBSD来自 天游web原生态手机端,配备压头的高性能&高吞吐量扫描电镜也用于压头样品制备聚焦离子束扫描电镜

当天FE-SEM“JSM-IT710HR”样品室内的纳米压痕仪“NMT04”已安装直播我们将举行示威。本次研讨会仅以现场形式举行。这是观看实机演示的宝贵机会,所以请加入我们。

您可以从本次研讨会中学到什么

  • 使用最新 SEM 和 FIB-SEM 的纳米压痕仪应用介绍

  • 纳米压痕仪演示

想要参与的客户

  • 对 nm 至 µm 尺寸材料的机械性能感兴趣的经验丰富的 SEM 人员

  • 对评估金属和非金属物理性质感兴趣的人

  • 对于那些对 EBSD 和纳米压痕仪联合分析感兴趣的人

  • 对于那些想了解配备纳米压痕仪的 SEM 和 FIB-SEM 条件的人

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纳米压痕仪NMT04(牛津仪器公司制造)

活动日期

2026 年 7 月 15 日星期三 13:00-16:30

参与费

免费

地点

天游web原生态手机端 株式会社西日本解决方案中心
大阪市淀川区西中岛 5-14-5 日产新大阪南口大厦 1 楼,邮编 532-0011

容量

24 人(计划)

  • 目前已满,您将被列入等待取消的名单中。请注意,即使您申请了,您也可能无法参加。如果取消,您仍然可以参加。

お问い合せ

天游线路检测中心有限公司
SI销售总部国内SI销售部大阪SI集团负责人
techigo[at]jeolcojp

  • 请将 [at] 更改为 @。

程序

时间 讲座/演示内容 扬声器
12:30~13:00

接待开始

13:00~13:30

FIB-SEM JIB-PS500i 简介
~从TEM样品制备到三维测量~

天游线路检测中心有限公司
SI事业部EP事业部EP企划部
柴田正辉

13:30~14:00

高性能和高通量 SEM
~JSM-IT510/710HR/810 系列介绍~

天游线路检测中心有限公司
SI 全球总部 SI 促销办公室
中岛香织

14:00~14:30

介绍“边看边压”In-SEM 纳米压痕仪

牛津仪器有限公司
成像与分析业务总部
应用组
中岛理惠

14:30~14:45

中断

14:45~15:15

介绍原位 EBSD 测量和 AZtecCrystal 的新功能

牛津仪器有限公司
成像与分析业务总部
应用组
五十岚诚

15:15~16:30

实机游览SEM:JSM-IT710HR / 纳米压痕仪:NMT04

16:30~

结束

如何申请

该研讨会目前已满,因此需要等待取消。请注意,即使您申请了,您也可能无法参加。如果取消,您仍然可以参加。

  • 如果您无法使用此表单进行申请,请与我们联系。

  • 请注意,我们可能会拒绝同一行业的其他公司或机构的注册。

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