天游线路检测中心 SEMICON JAPAN2024

我们将展出各种科学和测量仪器，包括用于故障分析和工艺开发的电子显微镜，以及用于光刻的电子束光刻设备。
作为实机演示，我们将演示擅长观察半导体样品的肖特基场发射扫描电子显微镜JSM-IT810<SIL>的功能。
我们知道您很忙，但我们想请您借此机会拜访我们。

日期/地点

• 日期：
  2024 年 12 月 11 日星期三至 12 月 13 日星期五
  10:00-17:00

• 地点：
  东京国际展示场
  东京都江东区有明 3-11-1 135-0063地图

• 展位号：
  东京 Big Sight 东展览馆 4 号馆（展位号 4306）

展览内容

实机

JSM-IT810肖特基场发射扫描电子显微镜

Neo Comfort FE-SEM 隔音外壳

两轴倾斜支架

*有关现场演示的详细信息，请查看本页的“演示”部分。

面板

JIB-PS500i FIB-SEM 系统

JEM-ACE200F 高通量分析电子显微镜

JBX-A9系列电子束光刻系统

JBX-8100FS系列电子束光刻系统

JBX-3050MV/S电子束光刻系统

研发用BS系列电子束蒸发设备

设备使用支持简介

演示

在 SEMICON Japan2024 上，我们将在 JEOL 展位展示实机。
请体验新开发的外壳和尖端物理分析FE-SEM JSM-IT810<SIL>的性能。

地点：东京国际展示场<<4号馆>> JEOL展位内

使用实际机器进行演示（介绍功能）接受提前预订。
接待员 Hiromichi Tanaka：hiromtan@jeolcojp

时间表

① 10:30 至 11:30
② 11:30 至 12:30
③ 13:30 - 14:30
④ 14:30 - 15:30
⑤ 15:30 - 16:30

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电子邮件：jeol_event[at]jeolcojp

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